Распределенные плёночные элементы и элементы с сосредоточенными параметрами

  • Вид работы:
    Реферат
  • Предмет:
    Информатика, ВТ, телекоммуникации
  • Язык:
    Русский
    ,
    Формат файла:
    MS Word
    323,9 Кб
  • Опубликовано:
    2015-12-15
Вы можете узнать стоимость помощи в написании студенческой работы.
Помощь в написании работы, которую точно примут!

Распределенные плёночные элементы и элементы с сосредоточенными параметрами















Реферат

Распределенные плёночные элементы и элементы с сосредоточенными параметрами

Содержание

Введение

. Пленочные резисторы

. Конденсаторы

. Индуктивности

. Подстроенные элементы

Литература

Введение

Пассивные пленочные элементы схем (R, C, L), особенно в микроволновом (СВЧ - сверхвысокочастотном) диапазоне частот, позволяют реализовать значительное количество устройств в гибридном или интегральном исполнении, что решает проблемы надежности, цены и габаритов. При этом размеры элементов могут быть как распределенными, так и полусосредоточенными и даже сосредоточенными.

Принято считать элементы сосредоточенными, когда их линейные размеры не превышают 0,03l (lв - длина волны в линии, определяемая значением длины волны в свободном пространстве l0 = с/f и эффективной диэлектрической проницаемостью подложки eэф как lв = l0(eэф)-0,5). При таких размерах элементов можно пренебречь эффектами, обусловленными волновым характером электромагнитного поля, в частности сдвигом по фазе между входом и выходом элемента. Современные технологические приемы (фотолитография, ИС-технологии) позволяют реализовать сосредоточенные пассивные элементы, работающие вплоть до мм диапазона частот, которые с успехом применяются в генераторах большой мощности и малошумящих усилителях. Эти элементы выполняются обычно на кварце, что с одной стороны существенно улучшает параметры устройства по сравнению с распределёнными элементами, но значительно повышает их стоимость.

Полусосредоточенными считаются элементы, образованные отрезками ПЛ длиной менее четверти длины волны и имеющие в относительно небольшом диапазоне частот свойства сосредоточенных емкостей или индуктивностей.

Рассмотрим подобные элементы и их реализации в современ-ных микроволновых устройствах и системах.

. Пленочные резисторы

В полосковых схемах резисторы используются в качестве схемных СВЧ элементов, оконечных нагрузок и входят в состав низкочастотных цепей управления и питания. Применяются резисторы двух типов: с сосредоточенными параметрами (много меньше длины волны в линии) и распределенными. Предпочтительная форма резистора с сосредоточенными параметрами - прямоугольная. Резистор, включенный в полосковую линию, представляет собой отрезок ПЛ, выполненный из материала с высоким поверхностным сопротивлением. Входное сопротивление резистора

ZBX » R/(1 + jwCR/3),

где R = RSl/v - номинальное сопротивление резистора (RS - поверхностное сопротивление резистивного участка); С - емкость резистора. При выводе предполагалось, что R << wL; L - индуктивность. Емкость С можно оценить по формуле для плоского конденсатора. Эквивалентная схема пленочного резистора на СВЧ, учитывающая структуру тонкой резистивной пленки, в которой отдельные гранулы резистивного материала разделены воздушными промежутками, окисными пленками или диэлектрическим материалом, приведена на рис. 9,1, а. В СВЧ резисторе существует распределенная шунтирующая емкость Ср, на высоких частотах возникает последовательная индуктивность. В общем случае наличие паразитной емкости приводит к уменьшению сопротивления R1 на высоких частотах по сравнению с R на постоянном токе (рис. 1, б).

а                                    б

Рис. 1

Сосредоточенные пленочные резисторы (тонкопленочные) проектируют в виде полосок различной конфигурации. Электрический контакт с проводниками микросхемы обеспечивают перекрытием соответствующих участков резистивной и проводящей пленок (рис. 2).

Рис. 2

При проектировании тонкопленочных резисторов для обеспечения необходимого контакта между резистивным слоем и проводником размеры l1 и b1 не должны быть менее 200 мкм.

Исходными данными для расчета являются: номинальное значение резистора R, значение расчетной величины мощности рассеяния P.

Выбирают сопротивление квадрата резистивной пленки Rÿ, максимально допустимую удельную мощность рассеяния тонкопленочного резистора P и определяют геометрические размеры резистора l, b.

Обозначение размерности сопротивления квадрата пленки RŠ условное, отнесенное к произвольному квадрату поверхности однородной пленки= r/d,

где r - удельное сопротивление пленки, Ом×мм; d - толщина пленки, мм.

Площадь резистора определяют по формуле

S = P/P,

формат которой численно равен отношению его длины к ширине

n = R/R.

При этом геометрические размеры резистора будут

l = 10 (Sn)1/2 , b = 10(S/n)1/2,

где l, b - длина и ширина резистора, мм; s - площадь, см2.

При проектировании сложных схем с большим количеством резисторов, имеющих различные номинальные значения R, допустимо использование более сложных топологических решений резисторов. В этом случае для их расчета следует пользоваться стандартом ОСТ 450.020.224-82.

Варианты включения резисторов между ПЛ различных размеров и конфигурации (например, в направленных делителях) представлены на рис. 2, б, в, г.

Рассмотрим более подробно, наиболее применяемые топологии резисторов.

Резистор, заземленный через отверстие - cогласованная широкополосная нагрузка - устройство СВЧ, предназначенное для согласования нерабочих выходов СВЧ-схем. Она представляет собой резистор с сопротивлением, равным волновому сопротивлению тракта СВЧ, подключенный одним плечом к ПЛ, другим плечом к короткозамкнутому основанию. Топология и варианты конструкций нагрузки показаны на рис. 3, а, б.

 

а                          б                          в

Рис. 3

Основной электрической характеристикой нагрузки является частотная характеристика KстU, а основные требования к согласованной нагрузке: размеры предельно малы по сравнению с длиной рабочей волны; в месте включения не должно быть существенных нерегулярностей; короткозамыкающий отрезок должен быть минимальной длины. Диаметр отверстия, через которое заземляют резистор нагрузки, должен быть достаточным для обеспечения надежной металлизации отверстия (обычно d = 1 - 2 мм).

Согласованная нагрузка с размерами резистора 0,5х0,5 мм (Ra = 50 Ом/‰) и контактной площадкой 0,5х0,5 мм в ПЛ с Z0 = 50 Ом на подложке из ситалла толщиной h = 0,5 мм, обеспечивает KстU < 1,15 до 10 ГГц. В микросхемах, работающих в полосе частот Df/f0 £ 10 %, малое KстU обеспечивает узкополосная согласованная нагрузка, роль короткозамыкателя которой выполняет разомкнутый на конце шлейф (рис. 3, б). Для обеспечения KстU £ 1,1 - 1,5 в полосе частот с перекрытием K = f2/f1, волновое сопротивление шлейфа Zш должно быть

Zш » 0,1 Z0 tgp/2k,

где f1 и f2 - граничные частоты рабочей полосы.

Геометрическую длину шлейфа lш определяют по формуле

ш = 0,25l0/(eэф.ш)0,5,

причем длина шлейфа lш должна быть равна или больше ширины шлейфа vш.

Резистор такого назначения можно реализовать и при замыкании на землю через проводящую плоскость на верхней поверхности платы (КстU резистора улучшается при заземлении через металлизированный торец платы), рис. 3, в. Величина сопротивления таких резисторов определяется как .

Простейший резистор, заземленный с помощью четвертьволнвого разомкнутого шлейфа и в виде линии передачи с большим затуханием имеют вид рис. 4 и его величина определяются как:

   

Рис. 4

 ,

f1, f2 - граничные частоты полосы, при этом коэффициент отражения равен

Резисторы в форме сектора, трапеции, полуокружности, сопряженный по окружности с полоской и заземленной поверхностью имеют вид рис. 5 и описываются соответственно формулами:

   

а                 б                 в                 г

Рис. 5

а.

б.

в.

г.

где

При проектировании резисторов важную роль играет выбор такого перекрытия N, при котором наблюдается стабилизация переходного контактного сопротивления.

Рекомендуется для сопротивлений 25 - 50 Ом N = 0,7 - 0,5 мм; 50 - 200 Ом N = 0,5 - 0,4 мм; 200 - 500 Ом N = 0,4 - 0,2 мм (см. рис. 6). Для резисторов, у которых b < v, элемент стыковки с полоской, расширенный по сравнению с его рабочей частью, должен выступать из-под проводниковой пленки на расстояние в 1,5 - 2 раза превышающее ошибку на совмещение слоев при изготовлении платы.

Рис. 6

Резисторы с мощностью рассеяния до 0,5 Вт обычно выполняют в виде малогабаритных пленочных конструкций, а при более высокой мощности рассеяния используют конструкции, имеющие большую площадь. В нагрузочных резисторах на ситалле допустимо рассеивать до 3 Вт/см2, на поликоре - до 20 Вт/см2 при рабочих температурах 60 - 70 0С.


. Конденсаторы

Различают параллельные и последовательные конденсаторы.

Параллельная ёмкость может выполняться в виде отрезка ПЛ с волновым сопротивлением Z1 меньшим Z0 (рис. 7) при этом номинал её определяется как C [пФ] » Z1l(eэф)0,5/c, Z1 [Ом], l [м], c = =3×108 м/с, где величина l должна удовлетворять неравенству l < lв/8; с - скорость света [м/с] (либо по формуле плоского конденсатора, при выполнении указанного ранее неравенства С [пФ] = =0,885ser/d, где s - площадь металлической площадки, а d - толщина слоя диэлектрика в см, er - относительная диэлектрическая проницаемость).

Рис. 7

Кроме того, параллельная ёмкость может быть выполнена на краю платы либо через отверстия в ПЛ с включением сосредоточенного элемента, либо в виде распределенной емкости. Такую емкость, как и любую реактивную проводимость можно создать в виде шлейфов, разорванных либо закороченных на землю на конце (рис. 8). При этом величина емкости (либо индуктивности) находится в сильной зависимости от частоты сигнала и определяется для входной реактивной проводимости параллельных шлейфов:

- для короткозамкнутого - Yвх.кз = - j1/Zшctg2plш/lв;

- для разомкнутого - Yвх.хх = 1/Zш tg2plш/lв,

где Yш, Z ш - волновая проводимость и сопротивление шлейфа; lш - геометрическая длина шлейфа; lв - длина рабочей волны в ПЛ.

Рис. 8

В полосковых схемах на органических диэлектриках получила распространение емкость, образуемая при наложении части полоски на ее продолжение через слой пленочного диэлектрика (пленка из фторопласта, полиамидная и т.п.). В интегральных ИС СВЧ подобные емкости выполняются методами толстопленочной технологии. На рис. 9 приведены типичные топологии пленочных конденсаторов с элементами подстройки для получения более близких к номиналу значений. Отклонения от номинала в среднем 10 - 15 %.

  

а                 б               в

Рис. 9

пленочный элемент резистор конденсатор

При составлении топологии отдельных слоев следует учитывать, что нижняя обкладка должна выступать за край верхней не менее чем на 200 мкм, а диэлектрик должен выступать за границы площадки перекрытия обкладок не менее чем на 200 мкм. Расчет емкости С по формуле плоского конденсатора (C [пФ] = =0,885lver/h, v, l, h [см]) вносит погрешность не более 5 %, обусловленную пренебрежением краевыми эффектами, если l < l.

Плоский конденсатор прямоугольного (как и круглого сечения) на материале подложки, рис. 10 иногда называемый сосредоточенным конденсатором на подложке, применяется вплоть до сантиметрового диапазона. Расчет подобных элементов (а), если их линейные размеры v и l меньше l, основан на представлении плоского конденсатора в виде отрезка ПЛ шириной v и длиной l (б - для круглого сечения).

а                                    б

Рис. 10

а. C [Ф] = C0 + Cк1 + Cк1, C0 = e0ervl/h,

Cк1 = (0,5e0l) [120pZв(v, h, 1)/Z2в(v, h, er) - erv/h],

Cк2 = (0,5e0v) [120pZв(l, h, 1)/Z2в(l, h, er) - erl/h], l, v, h [м].

б. C [Ф] = C0 + Cкр,

C0 = eэфe0pr20/h, Cкр = 2eэфe0r0[ln(pr0/2h) + 1,7726], r0, h [м].

Емкость конденсатора с учетом краевого эффекта дает погрешность результатов, получаемых по данным формулам, при 2h/v £ 1 около 1 %; при 2h/v £ 2 » 2 % и 2h/v £4 » 20 %.

На рис. 11 представлена зависимость емкости прямоугольного конденсатора от отношения v/l при различных значениях параметра l/h, er и толщины подложки. Например, емкость при er = 2,5 равна среднему арифметическому ее значений при er = 2,3 и 2,7. Наличие двух значений er позволяет оценить влияние разброса er на емкость.

Рис. 11

На рис. 12 представлены зависимость eэф от отношения r0/h при различных значениях er и зависимость емкости конденсатора круглого сечения от тех же параметров при v = 2r0.

Рис. 12

Преимущества сосредоточенных конденсаторов на подложке: простота изготовления; возможность получения с достаточной точностью требуемой емкости, так как при обычно используемых толщинах подложек емкость на единицу площади невелика (для подложек с eг = 10 около 0,1 пФ/мм2); высокое пробивное напряжение; возможность реализовать высокую добротность, так как нет ограничений на материал обкладок и их толщину в пределах используемой технологии; возможность точной подстройки простыми технологическими способами. Недостатки: относительно большая площадь элементов; невозможность достижения больших номиналов; усложнение конструкции при последовательном включении конденсаторов в линию из-за необходимости использовать отверстия и т.п.

Несмотря на универсальность, многослойная пленочная конструкция конденсатора обладает недостатками; трудно создать высокочастотные конденсаторы с высокой удельной емкостью (получены удельные емкости до 30 - 50 пФ/мм2); появляются дефекты (проколы) при изготовлении диэлектрических слоев; из-за малой толщины диэлектрического слоя не удается достичь высокого пробивного напряжения. Для создания конденсаторов небольшой емкости нередко используют конструкции без дополнительных диэлектрических слоев. К таким конденсаторам относятся торцевой зазор в полоске, гребенчатый зазор.

Последовательную емкость выполняют в виде планарной (гребенчатый) штыревой структуры, изображенной на рис. 13, которая имеет величину, определяемую как

C [пФ/ед. длины] = (er + 1) e0b[2A1(N - 1) + A2],= 0,614(h/s)0,25(t/h)0,439,= 0,775t/(2N - 1)(t + s) + 0,408,

N - число секций, h - толщина подложки.

Рис. 13

Либо в виде зазоров и параллельно расположенных ПЛ, при этом погонная емкость (Сп, пФ/см) между двумя такими обкладками (рис. 14, а) для подложек с er = 10 определяют по графику рис. 14, б. Для подложек с er = 7 - 8 следует значение, полученное из графика, умножить на 0,7.

Добротность конденсатора рассчитывается по формуле

/QC = 1/QS + 1/Qd,

где Qs = 3v/2wCl2RS - добротность проводящих пластин; Qd= 1/tgd - добротность диэлектрической пленки.

Погрешность расчета емкости по приведенным формулам - до 5 %, а добротность может быть оценена и как QС = 1/wCR, где R= (4/3)bRS/Nt, Rs - поверхностное сопротивление проводника, в котором сформирована емкость. На частоте 2 ГГц достигнута добротность конденсатора (С = 2,9 пФ), равная 677. Достоинство конструкции - в ее простоте, несмотря на высокие требования к качеству изготовления штырей и зазоров, недостатки - сложность подстройки и малый номинал.

 

а                                    б

Рис. 14

Навесные конденсаторы постоянной емкости. В полосковых схемах в зависимости от типа конструкции используются: конденсаторы постоянной и переменной емкостей, предназначенные для относительно низкочастотных цепей, если они сохраняют свойства сосредоточенных элементов в СВЧ диапазоне; конденсаторы, разработанные специально для СВЧ диапазона. Номиналы конденсаторов соответствуют стандартным, но существуют более высокие классы точности: 0 (±2 %), 00 (±1 %), 05 (±0,5 %), 02 (±0,2 %), 01 (±0,1 %). По отклонению ТКЕ конденсаторы разделяются на две подгруппы: I - керамические, стеклокерамические и стеклянные на номинальное рабочее напряжение до 1600 В, изолированные емкостью до 47 пФ, незащищенные и неизолированные емкостью до 20 пФ; II - керамические, стеклокерамические и стеклянные на номинальное рабочее напряжение до 1600 В, изолированные емкостью больше 47 пФ, незащищенные и неизолированные емкостью больше 20 пФ, керамические, стеклокерамические и стеклянные на номинальное рабочее напряжение выше 1600 В.

Конденсаторы типа К10-9, К10-17, К10-42, К10-43 и т.п. представляют собой миниатюрные керамические параллелепипеды (рис. 15, б, слева (а) изображены бескорпусные резисторы), торцы которых металлизированы и облужены. Конденсаторы с помощью пайки крепятся к контактным площадкам схем. Габаритные размеры этих конденсаторов соответственно: К10-9 2x2x1,2; 2x4x1,2; 4x4x1,2; 2,5x5,5x1,2 мм; К10-17: 1,5x1,4x1,2; 2x1,9x1,2; 4x3x1,2; 5,5x4,6x2,0 мм; К10-42: 1,5x1,4x1,2 мм; К10-43: 4x2,9x2,4, 5,5x3,2x2,7; 8x6,8x2,4; 12x10,6x2,4 мм, а номиналы: К10-9 номиналы 2,2 - 47 000 пФ (допуск на емкость ±5 и ±10 %, ТКЕ + 33×10-6 (ПЗЗ), - 47×10-6 (М47)), рабочее напряжение - до 25 В; К10-17 номиналы 22 - 330 000 пФ (допуск на емкость ±5 и ±10 %, по ТКЕ относятся к группам МЗЗ, М47, М75), рабочее напряжение - до 25 В; К10-42 номиналы 1 - 22 пФ (допуск от ±0,25 пФ до ±0,5 пФ для емкости 4,7 - 10 пФ и ±5; ±10; ±20 % для емкостей больше 10 пФ, по ТКЕ (- 47 ± 30)×10-6 группа М47); рабочее напряжение 50 В, tgd < 15×10-4.

а                 б

Рис. 15

Конденсаторы К10-43 имеют номиналы 21,5 пФ - 0,0442 мкФ с допуском ±1, ±2, ±5 %; ТКЕ (0 ± 30)×10-6 (группа МПО); рабочее напряжение 25 В tgd £ 15×10-4. Конденсаторы К10-42 имеют наименьшие габаритные размеры и разработаны специально для применения в ГИС СВЧ на частотах до 2 ГГц.

В полосковых схемах можно использовать как малогабаритные переменные конденсаторы, не предназначенные для СВЧ техники, до 0,5 ГГц, так и конструкции, специально разработанные для СВЧ диапазона. Конденсаторы типа КТ4-25 (рис. 8.14, а) имеют габаритные размеры 8,5x4,5 (для номинального напряжения 250 В), 5х3,5 (100 В); 5х5x3,5 (100 В); 8,5х8,5х4,5 мм (250 В) и т.д. Они обеспечивают диапазоны изменения емкостей 1 - 5; 2 - 10; 5 - 25; 6 - 30 (100 В); 0,4 - 4; 2 - 20; 1 - 8; 5 - 40 пФ (250 В); ТКЕ (0 + 30)×10-6 (группа МП0), - (75 ± 30)×10-6 (группа (М75) и - (750 ± 100)×10-6 (группа М750); tgd £ 2×10-4. Конденсаторы выдерживают до 100 перестроек, масса - не более 0,6 г. На частотах до 100 - 300 МГц можно применять малогабаритные пластинчатые конденсаторы с воздушным диэлектриком типа КПВ-1, обеспечивающие диапазоны изменения емкости 2 - 12 пФ. Однако из-за относительно больших для СВЧ цепей размеров и массы (15 - 20 г) эти типы конденсаторов используются редко.

Для диапазона СВЧ предназначены конденсаторы КТ4-22, имеющие размеры 8,5х8,5х4,5 мм и перестраиваемые от 0,21 до 2; от 1 до 5; от 2 до 10; от 3 до 15 и от 4 до 20 пФ. Номинальное напряжение конденсаторов 250 В; tgd £ 20×10-4; ТКЕ - (75 ± 75)×10-6; масса - не более 0,7 г.

Конденсаторы типа КТ4-27 выдерживают до 50 циклов перестройки, разработаны, в частности, для ИС СВЧ и работают при номинальных напряжениях 25 и 50 В. Габаритные размеры 2,8х2,6х1,2 (25 В) и 5х4,7х1,8 мм. (50 В), диапазоны перестройки 0,4 - 2, 1 - 5 (25 В), 1 - 5, 2 - 10, 3 - 15, 4 - 20 пФ (50 В); ТКЕ - (75 ± 125)×10-6; tgd £ 20×10-4. Масса 0,07 г (25 В) и 0,2 г (50 В).

В диапазоне до 5 ГГц находит применение миниатюрный плоский конденсатор, обеспечивающий при габаритных размерах 5х1х0,5 мм перестройку 0,1 - 2,5 пФ. На частоте 1,4 ГГц потери 0,04 дБ.

. Индуктивности

Индуктивность при номиналах единицы нГн - это отрезки полосковых линий. Плоские, спиральные элементы применяются в качестве дросселей и индуктивностей с номиналом от единиц нГн до сотен мкГн.

Такие элементы находят применение в полосковых схемах на органических и неорганических диэлектриках и являются по существу отрезком линии передачи, что упрощает технологию изготовления. Погрешности при реализации такие же, как при изготовлении проводников. Недостатки: большие габаритные размеры и отсутствие возможности простой подстройки.

С помощью прямоугольного проводника можно реализовать индуктивности малых номиналов (до единиц нГн). Рассмотрение прямоугольного отрезка, как короткозамкнутого отрезка линии передачи позволяет вывести как выражение для полного сопротивления такого элемента:

Z = Rl + jwLl,

где R - погонное активное сопротивление; L - погонная индуктивность; l - длина рассматриваемого отрезка линии, так и добротности индуктивности

QL = wL/R.

При этом сопротивление прямоугольной полоски можно определить как

R = nRSl/2(v + t),

где Rs - поверхностное сопротивление, Ом; n - поправочный коэффициент, учитывающий неравномерное распределение тока в полоске. Отрезок проводника (рис. 16) в качестве индуктивности употребляется редко, но следует помнить, что отрезок линии передачи со свойствами последовательной индуктивности имеет индуктивность L металлической полоски шириной v и длиной l (без учета влияния металлического основания подложки) определяемую формулой

Рис. 16


где L - величина индуктивности; l, v, t - длина, ширина и толщина полоски, мм.

Геометрические размеры индуктивностей величины L в структуре в виде полоски или “меандра” (рис. 17, а и б) можно определить из графика (рис. 17, а) (без учета металлического основания и подложки).

а б

Рис. 17

Величину индуктивности L полосковой линии шириной v, высотой t и длиной l (рис. 18) с учетом влияния металлического основания подложки определяют по формуле

L = 0,46l×lg(8t/v) + (v/4t) » 0,2l ln(8t/v) + (v/4t).

В случае, если параметры ПЛ заданы в виде волновых сопротивлений (рис. 19), индуктивность следует определять как:

L [Гн] » Z1l(eэф)0,5/с, Z0 << Z1, c = 3 1011 мм/с, l, мм, l < l/8, Z0,Ом.

  

Рис. 18                Рис. 19                Рис. 20

Для цилиндрического проводника, применяемого крайне редко (рис. 20) ввиду низкой технологичности индуктивность равна

L [нГн] = 0,2l[ln(l/d) + 0,386], d, мм, l, мм.

Круглая одиночная петля (рис. 21) обладает индуктивностью:

                

Рис. 21       Рис. 22       Рис. 23

L [нГн] = 0,2l[ln(2l/(v + t)) - 2,451],

v, t и l - ширина, толщина витка и его периметр, мм.

Квадратная петля и равносторонний треугольник (рис. 22, 23) имеют индуктивности, соответственно:

L [нГн] = 0,2l[ln(2l/v + t) - 2,853],[нГн] = 0,2l[ln(2l/v + t) - 3,197],

где l, v, t - сторона квадрата или треугольника, ширина и толщина витка, мм.

Значение индуктивности, выполненной в форме круглой спирали (рис. 24), определяют по формуле

L = 5 (D + d)2 N2 /(15D - 7d),

если заданы D, d - внешний и внутренний диаметры (стороны) спирали, мм; N - число витков.

      

Рис. 24

Либо при задании R1, R2 - внутреннего и внешнего радиусов, мм, N - числа витков, и величины а = 0,5(R1 + R2), c = R2 - R1

L [нГн] = 0,4pN2a[(ln8a/c - 0,5) + (c/a)2(ln8a/c + 3,583)/24] - 2,853],[нГн] = 10N2(R1 + R2)2/(15R2 - 7R1),[нГн] = 39,3(0,8a2N2)/(6a + 10c).

Индуктивность плоской квадратной спирали (рис. 25) определяется по одной из формул

L [нГн] = 2,41aN5/3ln(8a/c),[нГн] = 8,5S0,5N5/3 (R1 = 0),[нГн] = 0,27D8/3r-5/3(1 + q/)-5/3,

где а = 0,5(R1 + R2), c = R2 - R1, S - площадь, см2, r - ширина витка, мм, q - ширина зазора, мм, D - сторона квадрата, мм.

 

Рис. 25

Если параметры плоской спирали заданы через внешний диаметр, то расчет ее индуктивности можно провести по формуле

L = 6 (D + d)2 N2 /(15D - 7d).

Внешний диаметр (сторону) спирали определяют по формуле

D = d + (2N - 1)s + 2v,

где s - шаг спирали и v - ширина спиральной полоски, мм.

Число витков спирали определяют по формуле

N = [(D + s) - (d + 2v)]/2s.

Добротность пленочных катушек индуктивности определяют (в общем случае как QL = wL/R, где сопротивление прямоугольной полоски R = 0,5nRsl/(v+t), Rs - поверхностное сопротивление, n - поправочный коэффициент (рис. 26, а), учитывающий неравномерное распределение тока в полоске) по формулам:

- для индуктивности в форме круглой спирали

Q = 2×103 v(D + d) f1/2/(15D - 7d);

- для индуктивности в форме квадратной спирали (f - частота, ГГц).

Q = 1,6×103 v(D + d) f1/2/(15D - 7d).

Погрешность расчета индуктивностей в виде спиралей составит ±10 %. Расчет производят методом последовательных приближений до получения расчетной величины индуктивности, совпадающей с заданной с требуемой точностью.

Плоские спиральные индуктивности круглой или прямоу-гольной (квадратной) формы применяются в качестве контурных индуктивностей или дросселей, позволяя реализовать значения индуктивности от единиц нГн до сотен мкГн. Добротность круглой спиральной индуктивности


Добротность квадратной спиральной индуктивности


где L - индуктивность, нГн; d1 = 2R1; d2 = 2R2; f - частота, ГГц; n' - поправочный коэффициент, учитывающий эффект «близости» витков плоской катушки, рис. 26, б.

      

а                                    б

Рис. 26

Наилучшее значение QL получают при d1/d2 = 0,2. Экспериментально установлено, что выбор одинаковой ширины витков и зазоров между ними (v = s) позволяет получить оптимальную добротность. На рис. 26, б представлена зависимость n' для круглых проводников от соотношения их диаметра и межвиткового расстояния с. Кривая 1 соответствует синфазным токам в соседних витках, кривая 2 - противофазным. Эффект близости изменяет распределение тока в проводниках и приводит к возрастанию сопротивления (до 30 - 35 % при малом s). При использовании данных этого рисунка для прямоугольных проводников полагают, что c/d = =(s + v)/v.

Используя комбинации L и C можно получить резонаторы или контура параллельного или последовательного типа. Добротность подобных контуров лежит в пределах 10 - 90.

Индуктивные элементы. Несмотря на относительную простоту изготовления пленочных индуктивностей, навесные индуктивные элементы также находят широкое применение в качестве дросселей питания и элементов гибридных схем СВЧ. Навесные бескорпусные печатные катушки индуктивности используют в ГИС на частотах до 200 МГц: номиналы 26 - 230 мкГн; размеры 6х6 мм при толщине 0,25 мм; добротность - в пределах 20 - 30; рабочий ток - до 250 мА.

В качестве дросселей до 100 мкГн могут быть использованы индуктивности на торроидальных сердечниках диаметром 2 мм. Разработаны чип-индуктивности, имеющие номиналы 15 - 1000 мкГн при добротности 70 - 80, используемые на частотах до 300 - 400 МГц. Конструкции, предназначенные для высокочастотных трансформаторов, применяются также и для создания высокочас-тотных индуктивностей в диапазоне сотен МГц: номинал - от единиц до 1000 мкГн. В метровом и дециметровом диапазоне используются высокочастотные дроссели типа ДМ. Паразитные параметры этих дросселей можно компенсировать в узкой полосе частот с помощью коротких индуктивных отрезков. Дроссели (ГИ 0.477.005ТУ) выпускаются трех типоразмеров на 64 номинала. Габаритные размеры типоразмеров: I: L = 70 мм; l = 11,5 мм; D = 3,8 мм; II: L = 72 мм; l = 13,5 мм; D = 4,4 мм; III: L = 80 мм; l = 21,5 мм; D = 5,1 мм. По значению рабочего тока различаются семь типов дросселей: на 0,1; 0,2; 0,4; 0,6; 1,2; 2,4; 3 А. В зависимости от типоразмера и рабочего тока устанавливается диапазон номиналов дросселей. Например, дроссели ДМ-0,1 имеют номиналы - 40 - 125 мкГн (типоразмер I), 140 - 200 мкГн (типоразмер II), 200 - 500 мкГн (типоразмер III). Точность выполнения номиналов составляет ±5 %, добротность 80 - 100. Дроссели типа ДМ работают при температуре -60 - 155 ОС при относительной влажности 98 % (40 ОС), выдерживают вибрации в диапазоне 5 - 2500 Гц (ускорение 20 g). На параметры ПЛ дроссели оказывают минимальное влияние при включении их над платой перпендикулярно оси полоски в области малой концентрации электромагнитного поля. Однако технологически подобное включение трудно осуществить с достаточной надежностью в тех случаях, когда вывод дросселя необходимо паять непосредственно к ПЛ. Существует ряд конструкций дросселей, однако их конструкции могут быть использованы лишь в сантиметровом диапазоне.

. Подстроенные элементы

Необходимость в подстроечных элементах вызвана разбросом характеристик схем из-за технологических, производственных и других причин, неидентичности характеристик навесных компонентов и т.д. Подстраивать можно большинство топологических элементов полосковых схем.

На рис. 27 изображены конструктивные элементы, позволяющие в ПЛ осуществить: изменение длины прямого и ступенчатого проводников напайкой или разрывом перемычек (рис. 27, а, б); изменение длины проводника, замкнутого на землю, напайкой или разрывом перемычек (рис. 27, в); изменение ZВ полосковой линии (рис. 27, г). Между подстроечными полосковыми элементами наиболее типичны зазоры 0,3 мм, что вполне доступно для изготовления печатных плат и микросхем СВЧ.

  

а                 б                          в

Рис. 27, г

На рис. 28, а изображена наиболее часто употребляемая конфигурация верхней обкладки конденсатора. Данная форма обкладок и методы присоединения (и отсоединения) подстроечных секций могут употребляться в любом типе пленочных конденса-торов. Настройка штыревых (планарных) конденсаторов выполняется разрывом или напайкой перемычек в отдельных штырях, что позволяет так же, как в пленочных, получать высокую точность настройки схем.

        

а                          б

Рис. 28

Подстройка индуктивных элементов осуществляется в небольших пределах с помощью изменения числа витков (рис. 28, б). При этом ограничения на размер зазора те же, что и для полосковых проводников.


 

а                          б

Рис. 29

Литература

1. Jesse, Russell Burrows-Wheeler transform / Jesse Russell. - М.: Книга по Требованию, 2013. - 112 c.

. Баскаков, А. И. Локационные методы исследования объектов и сред / А.И. Баскаков, Т.С. Жутяева, Ю.И. Лукашенко. - М.: Academia, 2011. - 384 c.

. Гарматюк, С. С. Задачник по устройствам генерирования радиосигналов. Учебное пособие / С.С. Гарматюк. - М.: ДМК Пресс, 2015. - 672 c.

. Драгунов, В. П. Основы наноэлектроники / В.П. Драгунов, И.Г. Неизвестный, В.А. Гридчин. - М.: Высшая школа, 2006. - 496 c.

. Дьелесан, Э. Упругие волны в твердых телах. Применение для обработки сигналов / Э. Дьелесан, Д. Руайе. - М.: Главная редакция физико-математической литературы издательства "Наука", 1982. - 424 c.

. Егупов, Н.Д. Методы классической и современной теории автоматического управления. В 5 томах. Том 3. Синтез регуляторов систем автоматического управления / Н.Д. Егупов, К.А. Пупков. - М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2004. - 616 c.

. Карташкин, А. С. Компьютерные информационные технологии в бортовой РЛС / А.С. Карташкин. - М.: РадиоСофт, 2011. - 216 c.

. Королев, М. А. Технология, конструкции и методы моделирования кремниевых интегральных микросхем. В 2 частях. Часть 1. Технологические процессы изготовления кремниевых интегральных схем и их моделирование / М.А. Королев, Т.Ю. Крупкина, М.А. Ревелева. - М.: Бином. Лаборатория знаний, 2007. - 400 c.

. Логвинов, В. В. Схемотехника телекоммуникационных устройств, радиоприемные устройства систем мобильной и стационарной радиосвязи, теория электрических цепей / В.В. Логвинов, В.В. Фриск. - М.: Солон-Пресс, 2011. - 656 c.

. Лопатин, В. Ф. Теория передачи сигналов железнодорожной автоматики, телемеханики и связи / В.Ф. Лопатин, А.Д. Моченов. - М.: ИнФолио, 2010. - 368 c.

. Нефедов, В. И. Основы радиоэлектроники и связи / В.И. Нефедов, А.С. Сигов. - М.: Высшая школа, 2009. - 736 c.

. Радиотехнические устройства и элементы радиосистем / В.А. Каплун и др. - М.: Высшая школа, 2005. - 296 c.

. Ткаченко, Ф. А. Электронные приборы и устройства / Ф.А. Ткаченко. - М.: Новое знание, Инфра-М, 2011. - 688 c.

. Ушаков, П. А. Цепи и сигналы электросвязи / П.А. Ушаков. - М.: Академия, 2010. - 352 c.

. Фокин, В. Г. Оптические системы передачи и транспортные сети / В.Г. Фокин. - М.: Эко-Трендз, 2008. - 288 c.

. Хорн, Б. К. П. Хорн Зрение роботов / Б. К. П. Хорн Хорн. - М.: Мир, 1989. - 488 c.

. Ютт, В. Е. Электронные системы управления ДВС и методы их диагностирования / В.Е. Ютт, Г.Е. Рузавин. - М.: Горячая линия - Телеком, 2007. - 104 c.

Похожие работы на - Распределенные плёночные элементы и элементы с сосредоточенными параметрами

 

Не нашли материал для своей работы?
Поможем написать уникальную работу
Без плагиата!